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    半導體微量光子檢測顯微鏡

    簡(jiǎn)要描述:半導體微量光子檢測顯微鏡
    微光顯微鏡是捕獲半導體器件缺陷或失效點(diǎn)發(fā)射
    微量光子的一種無(wú)損檢測設備。在電激勵作用下,電
    子-空穴對或高能熱載子以光子的形式釋放出多余動(dòng)
    能。根據此原理,利用高增益低噪聲的相機就能精確
    定位到缺陷位置。EMMI系統C主要適用于PN結漏電、氧化層崩潰、
    靜電放電破壞、閂鎖效應、碰撞電離和雪崩擊穿等多
    種物理場(chǎng)景。

    • 產(chǎn)品型號:HOTMOS-1000
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
    • 更新時(shí)間:2024-06-11
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2333

    詳細介紹

    品牌其他品牌產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
    應用領(lǐng)域醫療衛生,化工,能源,電子,航天

    半導體微量光子檢測顯微鏡

    半導體微量光子檢測顯微鏡


    產(chǎn)品特征參數


    軟件圖像處理功能

     

    8寸高壓手動(dòng)氣浮探針臺



     

    紫外、可見(jiàn)光、紅外顯微光學(xué)系統

    2倍、5倍、10倍、20倍與50倍紅外物鏡

    400 -1000 nm 900-1700 nm響應波長(cháng)

    支持3000 V高壓偏置

    相機與源表的一體化控制程序

     

    應用方向

    GaNSiC 基功率器件

    的漏電“熱點(diǎn)"定位

    GaNLEDs與結型探測

    器的漏電“熱點(diǎn)"定位

    SiMOSFETIGBT等功

    率器件的漏電失效“熱

    點(diǎn)"定位

    GaAs基激光器光分布與

    漏電“熱點(diǎn)"定位

    常規的器件的靜態(tài)電學(xué)

    參數測試。

    相關(guān)系列有關(guān)于芯片失效與缺陷檢測都可以聯(lián)系我司,可看樣機測試









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